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老化插座

低成本,高性能老化測試標準插座

老化插座:

      28 family Size 28x38mm

      3S family Size 38x48mm

      55 family Size 55x65mm

適用產品尺寸:

      0.35mm(19x19 contact max)

      0.40mm(16x16 contact max)

      0.50mm(10x10 contact max)

      0.65mm(32x32 contact max)

      BGA/QFN(LGA)

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產品介紹

FTD標準老化系列插座。采用注塑與加工相結合的結構,具有良好的使用壽命和可靠性同時又較低客戶的采購成本。

產品特點

-適用Pogo PIN作為接觸部件

-支持高頻芯片測試

-很好的熱傳導性能與可靠性

-出色的接觸電阻和電流承受能力

封裝類型

● 球陣列封裝s:BGA, LGA, WLCSP, others – 350 μm pitch and up

● 引腳類封裝: QFP, SO, others – 350 μm pitch and up

● 無引腳封裝: QFN, others – 350 μm pitch and up


機械性能

● 產品引腳間距: 0.4mm 及以上

● 探針彈力: 15g -40g

● 測試行程:0.3mm -0.65mm

可靠性

● 探針使用壽命:200K

● 測試插座使用壽命: 5000小時

● 清潔頻率:50K


使用材料

● socket材料: 工程塑料

● 彈簧探針頭材料: 合金 

● 彈簧材料: 彈簧鋼


電性能

● 接觸電阻:100mΩ

● 電流承載能力:1.0A 持續電流

● 介電強度能力 : AC100V rms 1 min

● 絕緣電阻能力 : 1000MΩ min 


使用環境

● 溫度范圍: -55°C - 150°C

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